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資訊電子業品質指標雛議

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1、前言

1998年5月1日品質學會召開出版委員會,主任委員盧瑞彥先生(臺灣的品質獎個人獎得獎人,憶華電機總經理)提到一個令人疑惑的問題。多年前他曾經訪問美國矽谷旭電公司(Solectron)(1991年曾獲美國國家品質獎),當問到該公司目前的品質水準時,該公司陳董事長答道說:『經多年的整體改善活動,目前已達到500個ppm的品質水準』。但是盧總經理自己經營的憶華電機,目前制程品質水準也可以達到200個ppm,是否以憶華的品質水準也應可以申請美國國家品質獎?可是目前憶華還不曾申請臺灣的品質獎,這是否意味著臺灣的品質獎較美國國家品質獎的門坎還高。本人曾經替憶華電機設計即時制程管制系統,系統中要求以dppm爲單位計算制程的品質水準,所以熟知憶華電機品質水準的計算方式,當時就以下例來說明兩者 ppm 的計算方法不同,而造成品質指標不一致的結果。假設某制程;例如SMT,AI或HI,某天的生産日報如下: 産品別 A B C

l 假如以台爲計算基礎 P =(5+10+15)/(1,000+1,000+2,000) =30/4,000 =7,500ppm

即表示每100萬台平均有7,500台是不良。 c =(10+20+30)/(1,000+1,000+2,000) =60/4,000 =0.015 dpu

檢點數/台 200點/台 100點/台 50點/台 生産台數 1000台 1000台 2000台 不良台數 5台 10台 15台 合計缺點數 10點 20點 30點 即表示每台平均有0.015個缺點。 l 假如以檢點爲計算基礎

μ =(10+20+30)/( 200×1,000+100×1,000+50×2,000) =60/400,000 =150 dppm

即表示每100萬個檢點平均有150個缺點。

以上的解釋以100萬台爲單位及100萬個檢點爲單位,當然要兩個 ppm 的品質指標互相比較就有所出入。近年來國內資訊電子業在國際分工的設計及製造佔有舉足輕重的地位,客戶對製造商的品質合約常包括規格承認書、質量管理計劃及制程統計資料,其中引起最多爭議就是品質水準的計算方式,其間的影響造成訂單簽不下來或出貨簽不出去,當然品管人員首當其衝被老闆罵得莫名其妙。早在1993年筆者曾撰文詮釋6σ的意義(注1),而今品質學會出版委員會決定出版一份資訊電子業通用品質指標的標準一小冊,提供國內業界參考的依據。本文就此項需求先行提出一些通用的品質指標及符號術語,供資訊電子業先進討論空間,再逐步訂出符合大家可以使用的品質指標標準。

2、主要品質指標的沿革

産品品質特性的記錄一般分成計數值或計量值,計數值又以計件或計點爲記錄,計量值以實際測量之特性值爲記錄。自從資訊電子業導入MIL-STD-105D表爲抽樣檢驗的標準後,品質指標一直延用MIL-STD-105D表之AQL;目前使用版本爲MIL-STD-105E,多年來一直通行於資訊電子業界。AQL在10以下時,可表計件的不良率或計點的缺點數,AQL在10以上時,則表計點的缺點數或每百件缺點。計量值則以制程能力指數Cp、k(Ca)、Cpk爲代表。這些品質指標的大小,理論上是可以解釋其品質意義,譬如AQL=0.3%(以計件不良率表示)其意義爲當檢驗批的品質水準不良率p達到0.3%時,該批以MIL-STD-105E表驗收時,被允收的機率很高約90%以上,但檢驗批的實際不良率p太大時;如1%、2%,則檢驗批被允收的機率很小。因此,AQL常被用來當成制程的品質指標,以保證交貨(交易)時的允收率。制程能力指數也被拿來衡量産品試作及量産時品質稽核的指標。有些客戶要求供應商在試作階段及量産階段提報産品或制程的管制特性,其Cp或Cpk值在多少以上,才能保證不良率 p 在多少以下。

3、各種品質指標的定義及計算例

近年來,資訊電子業受到所謂“6個Sigma”的品質國際標竿(Benchmarking)的影響,大家紛紛採用“ppm ”或“幾個Sigma”爲品質水準的計量單位,但是對這一些新的名詞及術語的定義及計算方法不同行業有不同的說法,造成業界隨客戶的要求而無所適從。以下介紹目前流行於業界的一些品質指標名詞及術語。 l 計數值計件的品質指標

制程良率(Yield):一般以一制程之投入産品件數與該制程輸出良品的件數之比率。如(圖1)說明。

輸入1000件 輸出900件 INPUT 1000件 950件 920件

不良品 50件 30件 20件

(圖1)

A制程良率=輸出良品件數/輸入産品件數 =950/ 1000 =95.0%

B制程良率=輸出良品件數/輸入産品件數 =920 / 950 =96.8%

C制程良率=輸出良品件數/輸入産品件數 =900/ 920 =97.8%

全制程良率=輸出良品件數/輸入産品件數 =900/ 1000 =90.0%

以上適用於電子零件、半導體等制程,其不良品無法修理而報廢者。裝配廠的制程,其不良品大致上都可以修理,修理好的産品,再回線測試,繼續裝配,如此要定義其良率應以各制程的初檢通過率(First Time Yield;FTY)較爲合理。

初檢通過率(First Time Yield;FTY):一制程投入産品件數與第一次檢驗就通過之件數之比率。如(圖2)說明。 輸入1000件 輸出900件

INPUT 1000件 950件 920件

不良品 50件 30件 20件

(圖2)

A制程FTY=輸出良品數/輸入件數 =950/1000 =95%

B制程FTY=輸出良品數/輸入件數 =970/1000 =97%

C制程FTY=輸出良品數/輸入件數 =980/1000

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