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第四章 实验及数据分析 24
第四章 实验及数据分析
4.1 测试步骤
系统测试步骤如下： 1. 对演示平台加电5V。
2. 按下数据产生键，产生一组随机数据
3. 记录产生的汉明编码及接收到的汉明编码及解码出来的数据 4. 按下纠错位产生键随机产生一位纠错码
5. 记录产生的汉明编码及接收到的汉明编码及解码出来的数据 6. 重复2—5的操作过程，产生10组测试数据 7. 对数据进行分析
4.2 测试结果
对演示系统进行15次测试，测试结果如下表4.1所示，其中数据中标X的数据位为一位错码产生的位置。
序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 发送数据 10101010 10111010 10101110 10101111 11101111 11100011 11100001 11000001 10000001 10010001 表4.1 测试结果 发送端海明编码 接收端海明编码 0001X0100101 1X0110111101 01001110X101 1010X1100101 01X011110111 1110100101X1 0X1100010111 0011000X0011 11110001X001 0111X0001001 0001X0100101 1X0110111101 01001110X101 1010X1100101 01X011110111 1110100101X1 0X1100010111 0011000X0011 11110001X001 0111X0001001 解码数据 10101010 10111010 10101110 10101111 11101111 11100011 11100001 11000001 10000001 10010001 4.3 小结
对演示系统进行10次存在错码和不存在错码的纠错的状态下进行了详细的测
试，测试结果表明了，该系统达到了在1位错码存在的情况下自动纠错的目的，较好的实现了系统的整体的功能。
结束语 25
结束语
本文对基于单片机的汉明码检错、纠错算法进行了研究，并采用电路验证了汉明码的编码和译码。内容主要包括：
1.详细分析了汉明码的纠错原理；
2.完成（12，8）汉明码的编码和译码硬件电路设计及调试； 3.完成基于STC89C51芯片的（12，8）汉明码的编码和译码程序。 实际测试结果表明汉明码不仅性能好，纠错能力较强，而且编码、译码实现比较简单，易于编程实现，该纠错系统达到了预期的性能指标。
由于时间紧迫人手不足，该课题在还存在以下不足，后续还应该进行一定的研究。
1. 现在在汉明码一位纠错的基础上又发展出了多种其它形式的编码，这些可以识别两位的错码，具有更广阔的应用前景，后续工作中还应该进行一定的深入研究。
2. 演示系统在软件设计上为了达到一定的演示效果在发送和接收端存在一定的延时，实际应用中这些延时应该去掉。
参考文献 26
参考文献
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