发布时间 : 星期一 文章射线检测级人员开卷笔试练习题 - 图文更新完毕开始阅读
A.尽可能提高底片的黑度/B.尽可能提高底片地比度和减小照相不清晰度/C.尽可能降低底片的颗粒度/D.以上都是/
5.在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定不相符合的是 。;
A.底片黑度均匀部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的/B.单壁透照时允许象质计放置在胶片侧,且无需进行对比试验/C.当象质计放于胶片侧时,应在象质计上适当位置放置铅字“F”标记/D.小径管双壁双影透照,象质计可放在源侧,也可放在胶片侧/
6.下面是对JB/T4730.2-2005标准选用增感屏规定的理解,错误的是 。 A.500KV以下X射线照相,选择增感屏的厚度仅与X射线的能量有关B.γ射线照相,选择增感屏的厚度与检测技术等级有关,与源的种类无关/C.采用高能X射线(>12MeV)照相,选择增感屏厚度与检测技术等级无关/D.100KV以下X射线照如使用增感屏,则增感屏厚度应≤0.03mm/
7.按照JB/T4730.2-2005标准规定,当以观察底片黑度为2.2时,观片灯的亮度应不低于 。
A.220cd/m2/B.2200cd/m2/C.4800cd/m2/D.6600cd/m2/
8.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于射线能量的理解,不正确的是 。
A.应按公称厚度确定允许的最高管电压/B.当透照区截面厚度变化较大时,标准允许采用超出图1 的规定值/C.在一般射线照相中所采用的透照电压应低于标准中图1的规定值/D.标准中图1规定的主要不足是允许的最高透照管电压未与所使用的胶片类别相关联/ 9.下面是对JB/T4730.2-2005标准关于标记规定的叙述,错误的是 。
A.透照部位标记由识别标记和定位标记组成/B.标记一般放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位/C.搭接标记也是连续检测时的透照分段标记/D.所有标记的影像不应重叠,且不应干扰缺陷评定区内的影像 /
10.下面是对JB/T4730.2-2005标准质量分级内容的理解,不正确的是 。
A.质量分级中给出的缺陷类型与缺陷性质不一定完全相同/B.缺陷评定区应选在缺陷最严重的部位/C.在进行质量分级评定中,各类缺陷都应在缺陷评定区中评定/D.圆形缺陷按点数在缺陷评定区内评定,实际上是对缺陷允许的尺寸、数量、密集程度等进行评定/
11.按照JB/T4730.2-2005标准规定,在下列焊接接头的射线照中。不能使用铁(Fe)象质计的是 。
A.镍、镍合金/B.铜、铜合金/C.不锈钢/D.钛、钛合金/
12.下列关于对无损检测人员要求的叙述中,不符JB/T4730.2-2005 标准规定的是 。
A.从事承压设备无损检测的人员,应按《特种设备无损检测人员考核 规则》的要求取得相应的无损检测资格/B.取得不, 无损检测方法各 资格级别的人员,只能从事与该方法和级别相应的无损检测工作,并 承担相应的责任/C.仅从事γ射线检测的人员上岗前应进行辐射安全 知识的培训并取得放射工作人员证/D.射线检测人员未经校正或经校 正的近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0,测试方法应符合 GB11533的规定,从事评片的人员应每年检查一次视力/
13.JB/T4730.2-2005标准规定,应根据工件特点和技术条件选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。这一规定的主要目的是 。
A.单壁透照最有利于缺陷的检出/B.单壁透照在实际工作中最容易实施/C.单壁透照所用的
管电压低,可延长X射线机的使用寿命/D.以上都是/
14. JB/T4730.2-2005标准中与检测技术级别无关的规定是 。
A.一次透照长度的规定/B.用X射线透照小径管和其它截面厚度变化大的工件时,底片黑度值允许降低的规定/C.增感屏选用的规定/D.小径管使用对比试块的规定/
15.下面关于象质计使用的叙述中,不符合JB/T4730.2-2005标准规定的是 。 A.当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,应在透照区中间和最边缘的焊缝处各放置一个象质计/
B.单壁透照中象质计放置在胶片侧时,应进行对比试验/ C.当象质计放在胶片侧时,应在象质计适当位置放置铅字“F”标记/D.小径管双壁双影透照,象质计可放于源侧,也可放于胶片侧/
16.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于曝光量规定的解释,错误的是 。 A.曝光量与焦距有关,与技术级别有关/B.曝光量与焦距有关,与技术级别无关/C.采用γ射线源透照时,总曝光时间与检测技术级别无关/D.当焦距改变时,可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算/
17.JB/T4730.2-2005标准规定,对小径管对接接头透照时,当g(焊缝宽度)>DO/4时,应采用垂直透照重叠成像。这一规定的目的是 。
A. 当g>DO/4时垂直透照可减少透照次数/B.当g>DO/4时椭圆开口
宽度不好控制/C.当g>DO/4时垂直透照有利于未部未熔合的检出/D.以上都是/ 18.在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定相符合的是 。
A.对钢、铜及铜合金材料,管电压增量不应超过30KV/B.有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊接完成36h后进行射线检测/C.制作对比试块的材料应与被检工件的材料的射线吸收系数相同或相近/ D.对使用中的曝光曲线,每年至少应校验一次/
19.JB/T4730.2-2005标准在质量分级中,对不同材质的焊接接头允许的圆形缺陷评级的主要差异是 。
A.对深孔缺陷的规定不同/B.对各级别圆形缺陷放宽点数的规定不同/C.对圆形缺陷的定义不同/D.对铝和铝合金、钛和钛合金焊接接头所允许的圆形缺陷点数与钢焊接接头允许的点数不同/
20.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于小径管环向对接接头100%透照次数规定的理解,错误的是 。
A.按壁厚与直径之比规定透照次数,其目的是控制透照厚度比/B.按壁厚与直径之比规定透照次数,其目的是增大透照厚度宽容度/C.理论上相隔1200比相隔600透照3次更有利于不同部位缺陷的检出/D.在特殊条件下允许透照一次,尽管采取有效措施扩大缺陷的可检出范围,但不能保证实现焊缝全长的100%检测/ 21.按照JB/T4730.2-2005标准规定,下列各因素中与底片像质计灵敏度无关的是 。 A.透照方式/B.像质计摆放位置/C.射线源种类/D.透照厚度/ 22.按照JB/T4730.2-2005标准规定,当被检工件材料为低合金钢时,不可以使用 材料制做的像质计。
A.铜/B.低碳钢/C.奥氏体不锈钢/D.以上都可以/
23.在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定不相符合的是 。
A.评片人员从阳光下进入评片窒的暗适应时间一般为5~10min/B.如底片黑度均匀部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的/C.若底片上出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护不够/D.对评定范围内黑度D>4.0的底片,如有计量检定报告证明评定范围内的亮度能够满足4.10.3的规定,允许进行评定/
24.JB/T4730.2-2005标准规定,由于结构原因不能进行多次透照时,可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝的100%检测,此时应采取有效措施扩大可检出范围。这里的有效措施是指 。
A.适当提高管电压/B.双胶片技术/C.窗口加滤波板/D.以上都是/
25.下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定相符合的是 。
A.底片评定范围内的黑度是指不包括灰雾并的净黑度/B.经合同各方同意,各级别圆形缺陷允许的点数可以放宽1~2点/C.采取其它透照方式,在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的前提下,A级、AB级技术的Ir192源的最小透照厚度可降至10mm,Se75源的最小透照厚度可降至5mm/D.采用双胶片技术,如以单片观察,AB级的单片黑度应在2.0~4.0范围内/
26.JB/T4730.2-2005标准规定,由于材质或结构等原因,进行返修可能会产生不利后果的对接接头,各级别圆形缺陷点数可放宽1~2点。下列哪种材料不存在上述情况? A.奥氏体不锈钢/B.16MnR/C.钛合金及其复合材料/D.镍基合金及其复合材料/ 27.按照JB/T4730.2-2005标准规定,下列关于评片时底片评定范围内的亮度规定的叙述,正确的是 。
A.当底片评定范围内的黑度D≤2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2/B.当
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底片评定范围内的黑度时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m/C.对评定范围内的黑度D>4.0的底片,如有计量检定报告证明所用观片灯能满足4.10.3的要求,允许进行评定/D.以上都对/
28.按照JB/T4730.2-2005标准规定,φ133管子环形对接接头射线照应采用的方法是 。
A.单壁单影/B.双壁单影/C.双壁双影/D.A或B/
29.JB/T4730.2-2005标准规定,采用源在内中心透照方式周向曝光时,只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的规定,f值可以减小。但减小值不得超过规定值的 。 A.50%/B.405/C.20%/D.10%/
30.JB/T4730.2-2005标准规定,小径管环向对接接头透照时,若使用专用像质计(等径金属丝),则应至少能识别 根金属丝。 A.1/B.2/C.3/D.4/ 三、工艺题
1、某石化厂加氢装置管道定期检验时,检验员要求对重沸器出口管道三通与接管连接的环焊缝(B1、B2、B3)进行100%射线复查。(注:管道不折卸,焊缝周围无障碍物)。管道规格:材质:20#;规格:φ377×8mm,焊缝采用氩弧焊打底,手工电弧焊盖面,焊缝余高2mm。
现有XXZ2005X射线机和40CiIr192γ射线机各一台,请选择透照方式、检测设备、胶片和增感屏,参照所给曝光曲线填写下列射线透照工艺卡。
RF-200EG-S2曝光曲线图
Ir1192曝光曲线图