半导体-硅片生产工艺流程及工艺注意要点 - 图文

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图3.9背封时的边缘覆盖及其最小限度

在图3.9(a)中,可以看到背封延伸覆盖住了硅片正面,接近它的外延层趋向于无定形。这会减小有效硅片面积,因为器件不能建立在无定形硅上。

避免这个问题的一种方法是背封后,进行硅片边缘抛光,这样边缘就不再有无定形材料。如图3.9(b)所示。另一个方法是在进行背封时,用一面具罩在硅片边缘,避免边缘被沉积材料所覆盖。图3.9(c)显示了这个方法。面具就象衣领一样饶在硅片边缘。第三种方法这里没有显示,就是在硅片上生长氧化层以完全覆盖硅片。而后,正面的氧化层可通过上面流下的HF淋洗来去除。第四种方法也没有显示,硅片边缘与滚轴接触并使用HF溶剂,将SiO2从边缘处溶解下。 多晶

在背面沉积多晶防止自动掺杂和捕获硅片体内的重金属。在高温下,一些多晶硅会被氧化,但不会降低它的吸杂能力。

氢化硅(SiH4)源通常用来作为多晶。高温下,硅土热分解反应如下: SiH4 → Si + 2H2

在低压CVD(LPCVD)中,可在650℃左右沉积。这个温度在无定形和单晶硅沉积之间。 表面再结晶的过程通过一些过程如离子注入来补偿。基体通常在惰性气体或氢气的氛围下加热,热量的提供有利于驱逐(基体和注入物)原子移动占据有序晶格点。一旦退火后,掺杂剂就表现出电活跃性。

通过在高温下的扩散过程,实现硅片表面层氧的耗尽。 练习:

3-1.磨片过程的主要目的是---( ) a. 在硅片的两侧增加一均匀的损伤层; b. 使硅片表面平整; c. 去除硅片的微损伤;

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d. 高度抛光的硅片。

3-2.双面行星式磨片机---( ) a. 使用极其平整的磨盘和一种研磨砂; b. 使用贴有研磨砂的磨轮; c. 提供了一个极其清洁的磨片操作; d. 在磨片时,保持硅片在固定位置。

3-3.双面行星式磨片机能清除硅---(a. 使用化学品溶解硅表面层; b. 是一个化学/机械混合过程; c. 使用研磨颗粒磨损表面; d. 一次只能研磨一面。

3-4.酸腐蚀的主要好处是---( ) a. 自限制,易控制; b. 提供无腐蚀坑的光滑表面; c. 提供平整表面; d. 不会释放气体。

3-5.碱腐蚀的主要好处是---( ) a. 会使硅片呈“枕头”形; b. 不同批次的去除率不同; c. 是一种优先腐蚀; d. 提供无腐蚀坑的光滑表面。

3-6.以下为外吸杂工艺的是---( )a. 背损伤和氧沉积; b. 背面的多晶沉积和背损伤;

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