zemax优化操作数详细分类及使用 联系客服

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合理的玻璃。这个操作数限制了可取的相对于当前载入 RGLA 的玻璃库中的实际玻璃的折射率、阿贝常数和局部色散 第 一 表 最后表

面 的偏离值。完整的说明可参见“玻璃选择的优化”一节。 面

这个约束条件对指定的表面范围内的表面都有效。 以镜头长度单位测量的,

的RMS 斑点

波长

Hx,Hy

尺寸(光线像差)。这个操作数类似于RSCH,只不过参 环带 考点是像质心,而不是主光线。详细内容可参见RSCH

的RMS 斑点尺寸(光线像差)这个操作数

使用高斯积分法来估算指定视场坐标和波长的RMS 斑

点尺寸。得到的结果是以镜头长度单位表示的。使用的

方法仅对带有圆孔径的系统才是准确的。Int1 栏用来

环带

定义要追迹的光线的环带数(使用不超过要求的环带来 得到结果)。仅使用Hx 和Hy 来定义视场点,不用Px 和 Py。如果“波长”的值为零,则一个带有加权波长的多 色光被用来计算

以镜头长度单位测量的,相对于几何像质心的RMS 斑点 尺寸(光线像差)。这个操作数类似于RSCE,只不过它 使用矩形网格的光线,而不用高斯积分方法。这个操作 RSRE 数一般总是认可渐晕。网格值为1 则表示4 条光线,2 网格

表示追迹每个象限追迹一个2*2 网格(16 条光线),3 表示每象限追迹一个3*3 网格(36 条光线),等等。 已考虑到系统的对称性

RSRH 类似于RSRE,只不过参考点是主光线

网格

波长

Hx,Hy

相对于衍射质心的RMS 波前差。这个操作数对于最小化 RWCE 波前偏差是有用的,这个波前偏差于斯特列尔比率和

环带

MTF 曲线下的面积成正比。其单位为波长。参见RWCH。

详细内容可参见RSCH

相对于主光线的RMS 波前差。其单位为波长。由于已减

去平均OPD,这个RMS 实际上是指标准的波前偏差。参

见RWCE。详细内容可参见RSCH

RWRE 类似于RSRE,只不过是计算波前差,而不是斑点尺寸

网格

波长

Hx,Hy Hx,Hy — —

RWRH 类似于RSRH,只不过是计算波前差,而不是斑点尺寸 网格 波长

XZ平面上指定表面在半口径处的矢高,以镜头长度单位 表 面 编 SAGX —

表示 号 SAGY YZ 平面上指定表面在半口径处的矢高,以镜头长度单 表 面 编 —

环带

波长

Hx,Hy

波长

Hx,Hy

波长 Hx,Hy

波长 Hx,Hy

RWCH

位表示 号 在任意定义视场和波长时计算的弧矢工作F/#。参见 SFNO 视场 波长 —

TFNO

指定编号的操作数的值的正弦值。如果标记为零,则单 操 作 数 SINE 标记 —

位为弧度,否则为度 编号 如果对称则跳跃。如果镜头是旋转对称的,则评价函数 操 作 数 SKIS — —

的计算从指定的操作数编号继续下去 编号

操 作 数

SKIN 如果不对称则跳跃。参见SKIS — —

编号

指定表面产生的球差贡献值,以波长表示。如果表面编 表 面 编

波长 —

号值为零,则为整个系统的总和 号 操作数的平方根。这个自变量是要求平方根的操作数的 操 作 数 — SQRT —

行号 编号 两个操作数之和。这两个自变量是要相加的操作数的行 操作数 — SUMM 操作数1

号。参见OSUM 2 设置渐晕因子。当包括这一项时,将更新当前结构的渐 SVIG — — —

晕因子

指定编号的操作数的正切值。如果标记为零,则单位为 操 作 数 — TANG 标记

弧度,否则为度 编号 在任意定义视场和波长时计算的子午工作F/#。参见 TNFO 视场 波长 —

SFNO

总质量。计算指定表面范围内的玻璃镜头的质量。仅对

TMAS 那些带有圆形边缘的平面和球面标准表面有效。关于如 第 一 表 最后表

何计算元件的质量和体积的说明可参见“报告菜单”一 面 章

在像面半径方向测定的相对于质心的垂轴像差。与其他 操作数不一样的是,TRAC 精确根据评价函数编辑界面 中其他TRAC 操作数的分布来正确工作。TRAC 操作数必 TRAC 须由视场点和波长一起来分组。ZEMAX 将一起追迹一个

共同视场点的所有的TRAC 光线,然后根据这些

集体数据来计算所有光线的质心。仅可用默认评价函数 工具来将这个操作数输入到评价函数编辑界面中,而不 建议用户直接使用

TRAR 的x 分量。TRAD 具有与TRAC 一样的约束。详细 TRAD —

说明可参见TRAC。

波长 是

波长 是

TRAR 的y 分量。TRAE 具有与TRAC 一样的约束。详细

— 波长

说明可参见TRAC。

在指定表面半口径方向测定的相对于主光线的垂轴像 TRAI 表 面 编

波长 差。类似于TRAR,只不过是针对一个表面,而不是指定

的像面 TRAE

TRAR 在像面半径方向测定的相对于主光线的垂轴像差 TRAX 在像面x 方向测定的相对于主光线的垂轴像差 TRAY 在像面y 方向测定的相对于主光线的垂轴像差

在像面x 方向测定的相对于质心的垂轴像差。参见 TRCX TRAC。仅可用默认评价函数工具来将这个操作数输入到 评价函数编辑界面中,而不建议用户直接使用

在像面x 方向测定的相对于质心的垂轴像差。参 TRCY 见

TRAC。仅可用默认评价函数工具来将这个操作数输入到 评价函数编辑界面中,而不建议用户直接使用

总厚度大于。这个边界操作数强制使指定编号的表面的 总厚度(包括表面的前、后矢高)大于指定的目标值。

表 面 编

如果代码为0,则在+y 方向上半径为半口径处计算厚

度;如果代码为1 则在+x 方向上;如果代码为2 则在

波长

是 是

TTGT 代码 —

TTHI

TTLT TTVA

UDOP

-y 方向上;如果代码为3 则在-x 方向上

从第一个和最后一个指定的表面之间的表面的厚度的

第 一 表

总和。注意,这个和数是 的,而不是两个表面之间

的厚度

表 面 编

总厚度小于。参见TTGT

号 表 面 编

总厚度等于。参见TTGT

用户自定义操作数。用来优化在外部编译程序中计算得

宏 指 令

到的数值结果。参见“用户自定义操作数”一节,也可

编号

参见ZPLM

最后表 — 面

代码 代码

数据编 是 号

如果评价函数中有这个操作数,它将通知ZEMAX 假设镜 USYM 头中存在轴对称,尽管ZEMAX探测到不存在对称性。在

一些特殊的情况下这将加快评价函数的执行速度。参见

— —

这一章中前面的默认评价函数说明中的“假设轴对称” 元件的体积,以立方厘米表示。这个结果数值仅对于那

第 一 表 最后表 —

VOLU 些由平面和球面限制的区域才有效。总体积,计算在指

面 面

定表面范围内的镜头和空气空间的体积,仅对平面和带

有圆形边缘的标准球面才有效。参见“报告菜单”一章

中关于如何计算元件的质量和体积的说明

工作F/#。这是由像空间中实际边缘光线相对于主光线 WFNO — —

作出的角度计算出来的。

特殊数据值大于。Int2 的数字必须在1 和200之间,用 表 面 编 XDGT 数字

来说明选择哪个特殊数据值 号 特殊数据值小于。Int2 的数字必须在1 和200之间,用 表 面 编 XDLT 数字

来说明选择哪个特殊数据值 号 特殊数据值等于。Int2 的数字必须在1 和200之间,用 表 面 编 XDVA 数字

来说明选择哪个特殊数据值 号 空气表面的最小边缘厚度。这个操作数检查表面周边大

第 一 表 最后表

XNEA 量点的边缘厚度,确保所有点的厚度至少是指定最小厚

面 面

度。参见“MNEA”

玻璃表面的最小边缘厚度。这个操作数检查表面周边大 XNEG 第 一 表 最后表

量点的边缘厚度,确保所有点的厚度至少是指定最小厚

面 面

度。参见“MNEG”

最小边缘厚度。这个操作数检查表面周边大量点的边缘 XNET 第 一 表 最后表

厚度,确保所有点的厚度至少是指定最小厚度。参见

面 面

“MNET”

空气表面的最大边缘厚度。这个操作数检查表面周边大 XXEA 第 一 表 最后表

量点的边缘厚度,确保所有点的厚度不超过指定最大厚

面 面

度。参见“MXEA”

玻璃表面的最大边缘厚度。这个操作数检查表面周边大 XXEG 第 一 表 最后表

量点的边缘厚度,确保所有点的厚度不超过指定最大厚

面 面

度。参见“MXEG”

最大边缘厚度。这个操作数检查表面周边大量点的边缘 XXET 第 一 表 最后表

厚度,确保所有点的厚度不超过指定最大厚度。参见

面 面

“MXET” YNIP

参见《应用光学》,Vol.22,18,p3393

泽尼克边缘系数。Int1,Int2,Hx 和Hy 数据值分别用 来说明泽尼克系数项的编号(1-37),波长编号,采样

密度(1=32*32,2=64*64,等等),和视场位置。注意 如果你多个仅系数项编号不同的ZERN 操作数,则在编 辑界面中它们应被放在相邻行中。否则将降低计算速度

系数项

波长

见左

表 面 编

波长

— — — — —

ZERN