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生 效 日 标 记 计控制状态并呈现正态分布）： ? 文件编号： SPC作业指导书 编 制 修订内容 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 可使用Z值和标准正态分布表来估计多少比例的输出会超出规范值（是一个近似值，假设过程处于统 对于单边容差，沿着的边缘，找到Z值，表的左边为Z的整数部分和十分位值，行和列的交点的值即为超出规范的百分比PZ。例如，对于1.56，1.5行和X.X6列的交点得到PZ＝0.0594，或大约6％； ? 对于双向容差，分别计算超过上、下规范界限的百分比。例如，如果 ZUSL＝2.21，ZLSL＝－2.85，则总的规范界限的值为 PZUSL＋PZLSL＝0.0136＋0.0022＝0.0158或大约为1.6％。 Zmin也可转化为能力指数Cpk，按下列定义： USL?XX?LSLZminCpk?3=CPU（即3?Rd2）或CPL（即3?Rd2）的最小值 Zmin＝3的过程，其能力指数Cpk＝1.00，如果Zmin=4，则过程能力指数为Cpk＝1.33。 5.5.3 评价过程能力 例如，某些程序的全面能力指数要求Zmin≥3，或Cpk≥1.00，对于影响被选重要产品特性的新过程的能力指数要求为Zmin≥4或Cpk≥1.33。 ? 对输出进行筛选，根据需要进行报废或返工处置（这样会增加成本和容许浪费）。 ? 改变规范使之与过程性能一致（这样既不能改进过程也不能满足顾客要求）。 ? 以上两种方法与过程改进相比显然是下策。 5.5.4 提高过程能力 为了提高过程能力，必须重视减少普通原因，必须将注意力直接集中在系统中，即造成过程变异性的根本因素上，例如：机器性能、输入材料的一致性、过程操作的基本方法、培训方法或工作环境。一般来说，纠正这些造成不可接受的过程能力的系统原因可能会超出操作者或他们的现场管理人员的能力。相反，需要采取管理层介入做一些基本的变化、分配资源，并为改进过程的整个性能进行协调，用短期的局部措施来纠正系统是不会成功的。 5.5.5 对修改的过程绘制控制图并分析 对过程已采取了系统的措施后，其效果应在控制图上表现出来，控制图更成了验证措施是否有效的一种方式。在对过程实施改变时，应仔细地监视控制图。 5.6 Ppk与Cpk的计算公式 生 效 日 标 记 5.6.1 计算公式 文件编号： SPC作业指导书 编 制 修订内容 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 ? X?LSLUSL?X,3?s)为过程性能指数 Ppk=min(3?sX?LSLUSL?X,3?Rd3?Rd22? Cpk=min(n)为稳定过程的能力指数 式中(XI?X)2?S????sn?1i?1，σ＝R／d2＝σR/d2 5.7 过程能力接受准则 5.7.1 当客户对过程能力有要求时，则依客户要求。 5.7.2 客户无要求时，要确保过程具有能力，则Ppk≥1.67 Cpk≥1.33 5.8 纠正措施 5.8.1 按5.4之规定，当出现异常情况时，由生产班及时将异常情况及分析的情况记录于<控制图5M1E变化记录表>中。 5.8.2 生产班人员经过5M1E分析后，再按《纠正和预防措施控制程序》执行。 6、记录 6.1X-R控制图 6.2 控制图5M1E变化记录表 ? ? ? b、链—下列每一种情况都表明过程已开始变化或有变化的趋势： ? l 连续7点在平均值的一侧； ? l 7点连续上升或下降。 标注这些促使人们作出决定的点；从该点做一条参考线伸到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者： ? l 过程均值已改变——也许还在变化； ? l 测量系统已改变（飘移、偏差、灵敏度等） c、明显的非随机图形 生 效 日 标 记 修订内容 文件编号： SPC作业指导书 编 制 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 各点与过程均值的距离：一般情况下，大约三分之二的描点应落在控制限三分之一的中间区域内，大约1/3的点落在其它三分之二的区域；1/20的点应落在控制限较近之处（位于外三分之一的区域）。另外，存在大约1/150的点落在控制限之外，但可认为是受控的稳定系统合理的一部分——就是说，在约99.73％的点位于控制限之内。 如果大大超过2/3的点落在过程均值的附近（对于25个子组的情况，如果有关人员90％多的点在控制限三分之一的中间区域）应调查下列情况之一或更多： ? l 控制限或描点已计算错或描错或重新计算错； ? l 过程或取样方法分层；每个子组包含从两个或多个具有不同均值的过程 流的测量值； ? l 数据已被编辑 如果大大少于2/3的数据点落在过程平均值的附近（对于25个分组的情况，如果有40％或少于40％的数据落在中间三分之一区域内），则应调查下列情况之一或两者； ? l 控制限或描点计算错或描错； ? l 过程或抽样方法造成连续的子组是包含从两个或多个不同过程流的测量值。（这可能是由于对可调整的过程进行过度控制造成的）。 如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。 5.4.5 识别和标注特殊原因（均值图） 为了诊断并将不合格的输出减到最小，及时分析是很重要的，同样要记住并不是所有的特殊原因都是不利的。5.4.6重新计算控制限（均值图）当进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点，重新计算并描画过程均值和控制限。确保当与新的控制限相比时，所有的数据点看起来都处于受控状态，如有必要，重复识别/纠正/重新计算的程序。 如果明显的证据表明已发现过程的特殊原因，任何“纠正”措施将可能增加而不是减少过程输出的总变异。 5.4.7为了继续进行控制延长控制限 当首批（或以往的）数据都在试验控制限之内，延长控制限使之覆盖将来的一段时期。如果过程中心偏离目标值，这时还希望调整过程使之对准目标值，这些控制限可用来继续对过程进行监视。 子组容量的变化将影响期望均值极差以及极差和均值图的控制限。这种情况可能会发生。例如：如果决定减少样本容量但增加抽样频率，这样可以在不增加每天抽样零件总数的情况下，更快地检测到大的过程变化。 生 效 日 标 记 修订内容 文件编号： SPC作业指导书 编 制 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 a.估计过程的标准偏差（用σ表示）用现在的子组容量计算： σ＝R/d2 d2为常数，见下表 n d2 2 1.13 3 1.69 4 2.06 5 2.33 6 2.53 7 2.7 8 2.85 9 2.97 10 3.08 b.按照新的子组容量查表得到系数 d2 、D3 、D4和A2，计算新的极差和控制限： R新＝σd2 UCLR=D4R新 UCLX=X+A2R新 LCLR=D3R新 LCLX=X-A2R新 只要过程的均值和极差保持受控，可将控制限延长用于以后的时期。如果有证据表明过程的均值或极差已被改变（不论在哪个方向），应查明原因；如果变化是可调整的，则应根据当前的性能重新计算控制限。 5.4.8 有关“控制”的最后概念——用于进一步的考虑 过程控制图的目的不是完美的而是合理、经济的控制状态。因此，在实践中，一个受控的过程并不是图上无任何失控之处的过程，如果一张控制图上从来不出现失控点，我们将严肃地查问该操作是否应画图。 适时地检查某控制点是否失控是控制图的优点。 5.5 过程能力解释 7． 1．假设下的过程能力的解释 ? ? ? ? ? 过程处于统计稳定状态； 过程的各测量值服从正态分布； 工程及其它规范准确地代表顾客的需求； 设计目标值位于规范的中心 测量变量相对较小。 8． 2．一般情况下，将过程输出的分布与工程规范相比，看是否始终满足这些规范。 9． 3．如果不知道分布是否是正态分布，则应进行正态性检验使用诸如审查直方图，在正态分布纸上描点。 5.5.1计算过程的标准偏差