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生 效 日 标 记 1、目的 文件编号： SPC作业指导书 编 制 修订内容 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 在相关的过程使用控制图和计算过程能力指数，确保过程具有能力，从而预防缺陷的产生。 2、范围 适用于控制计划中规定的过程。 3、定义 3.1 X-R图：均值和极差图 3.2 Ppk：初始能力指数 3.3 Cpk：过程能力指数 3.4 5M1E：人员、机器、材料、方法、环境及测量 4、职责 4.1 技术开发部在控制计划中规定使用控制图的过程，品保部进行过程的初始研究，计算Ppk值。 4.2 品保部负责控制图（如X-R图或P图）的使用和Cpk值的计算。 4.3 人力资源处负责控制图的相关使用人员的培训。 5、内容 5.1 说明 本作业指导书规定使用的控制图特指X-R图。其它控制图的使用方法参见《统计过程控制（SPC）》参考手册。 5.2 控制图格式 采用美国三大汽车公司之标准格式，见，若有客户要求时，则采用客户的规定格式。 5.3 描绘控制图的具体步骤 5.3.1 收集数据 5.3.1.1 选择子组大小、频率和数据 a. 子组大小 本公司的X-R图的子组大小为2~5，即每次连续抽2~5个产品。 b. 子组频率 按控制计划要求。 c. 子组数的大小 生 效 日 标 记 修订内容 文件编号： SPC作业指导书 编 制 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 一般情况下，为25组以上。 5.3.1.2 建立控制图及记录原始数据。 由控制图使用者将相关的日期/时间/读数/均值（X）/极差（R）等记录于 中。 5.3.1.3 计算每个子组的均值（X）和极差（R） 按下列公式计算，并将结果记录于 中的相关栏位。 X?X1?X2???Xnn ，n为子组的样本容量 R=X最大值 – X最小值 5.3.1.4 选择控制图的刻度 对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值（X）最大值与最小值差的2倍。 对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 5.3.1.5 将均值X和极差R画到控制图上。 5.3.2 计算控制限 5.3.2.1 计算平均极差（R）及过程平均值（X） R?R1?R2???RKK X?X1?X2???XKK K为子组的数量 5.3.2.2 计算控制限 UCLR=D4R UCL=X+A2R XLCLR=D3R LCL=X-A2R X式中之D4、D3及A2为常数，见 。 5.3.2.3 画控制线 在平均值（X）和极差图（R）中用水平虚线将各自的控制限画上去，在初始研究阶段，这些控制限叫试验控制限。 5.4 过程控制解释 5.4.1 分析极差图（R图）上的数据点 a、超出控制限的点——出现一个或多个点超出任何一个控制限，是该点处于失控状态的主要证据。因为在只存在普通原因引起变差的情况下，超出控制限的点会很少，我们便假设该超出的是由于特殊原因造成的。因此，任何超出控制限的点是立即进行分析、找出存在的特殊原因点的信号。 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 生 效 日 标 记 修订内容 控制限计算错误或描点时描错； 文件编号： SPC作业指导书 编 制 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏）， 这种增大可以发生在某个时间点上， 也可能是整个趋势的一部分； 测量系统变化（例如， 不同 的检验员或量具）； 测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种： 控制限或描点错误； 分布的宽度变小（即变好） 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） b、链—有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势： 连续7点位于平均值的一侧； 连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降； 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部： 输出值的分布宽度增加， 其原因可能是无规律的（例如设备 工作不 正常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（例如， 使用新的不 致的原材料）， 这些都是常见的问题， 需要纠正； 测量系统改变（例如， 新的检验员或量具） 是很一 低于平均极差的链，或下降链表明存在下列情况之一或全部： 输出值分布宽度减小， 程； 测量系统改变， 这样会遮掩过程真实性能的变化。 注：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，低于R的链的可能性增加，则8点或更多点组成的链才能表明过程变差减少。 c、明显的非随机图形： 各点与R的距离：一般地，大约2／3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1／3的点落在其外的三分之二的区域。 如果显著多于2／3以上的描点落在 离R很近之处（对于25个子组，如果超过90％的点落在控制限三分之一的区域），则应对于下列情况的一种或更多进行调查： 控制限或描点已计算错或描错； 这常常是一个好状态， 应研究以便推广应用和改进过 生 效 日 标 记 修订内容 文件编号： SPC作业指导书 编 制 编 制 版本/修改： A/0 发放编号： 页 码： 审 核 审 核 批 准 批 准 过程或取样方法被分层；每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同 的过程均值的过程流的测量值（例如， 从几组轴中， 每组抽一根， 测取数据）； 数据已经过编辑（极差或均值相差甚远的几个子组被更改或剔除）。 如果显著少于2／3以下的描点落在离R很近的区域（对于25个子组，如果有40%或少于40％的点落在中间三分之一的区域），则应对下列情况的一种或两种进行调查： 控制限或描点计算错或描错； 过程或抽样方法造成连续的分组中包含从两个或多个具有明显不同 的变化性的过程流的测量值（例如：输入材料批次混淆）。 5.4.2 识别并标注特殊原因（极差图） 对于极差数据内每个特殊原因进行标注，为了将生产的不合格输出减到最小以及获得诊断用的新证据，及时分析问题是很重要的。 5.4.3 重新计算控制限（极差图） 排除所有受已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的平均极差（R）和控制限，并画下来。如有必要重复识别／纠正／重新计算的过程。 注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据”，而是排除受已知的特殊原因影响的点，我们有普通原因引起的变差的基本水平的更好估计值，这为用来检验将来出现变差的特殊原因的控制限提供了最适当的依据。但是要记住：一定要改变过程，已使特殊原因不会作为过程的一部分重现。 5.4.4分析均值图上的数据点（X） 由于X的控制限取决于极差图中变差的大小，因此如果均值处于统计控制状态，其变差便与极差图中的变差——系统的普通原因变差有关。如果均值没有受控，则存在造成过程位置不稳定的特殊原因变差。 a、超出控制限的点——出现一点或多点超出任一控制限就证明在这点出现特殊原因，这是立即对操作进行分析的信号，在控制图上标注这样的数据点。 一点超过任一控制限通常表明存在下列情况之一或更多： 控制限或描点错误； 过程已改变， 部分； 或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一