无损检测超声波二级考试题库 联系客服

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超声检测习题部分

C. 垂直线性 D. 分辨率 3.35 增加发射强度,分辨力将( )。 A. 提高 B. 不变 C. 降低 D. 相同变化

4.1 超声波检测方法按原理分类,可分为( )。

A. 脉冲反射法 B. 穿透法 C. 共振法 D. 以上都对 4.2在脉冲反射法检测中可根据( )判断缺陷的存在

A.端角反射波 B.缺陷回波、底波或参考回波的减弱或消失 C.接收探头接收到的能量的减弱 D.界面反射回波 4.3对接焊接接头焊缝超声波检测最常采用的是( )。

A. 纵波法 B. 兰姆波法

C. 横波法 D. 爬波法

E. 瑞利波法

4.4 横波检测最常用于( )。

A. 焊缝、管材检测 B. 检测表面光滑工件的近表面缺陷 C. 检测厚板的分层缺陷 D. 薄板测厚 4.5 超声检测的单探头法难以检出的缺陷是 ( )。

A. 与波束轴线垂直的片状缺陷 B. 立体型缺陷 C. 与波束轴线平行的片状缺陷 D. A和B

4.6 主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是( )。

A. 交叉式 B. V型串列式 C. K型串列式 D. 串列式

4.7 超声检测时对于定量要求高的情况应选则( )的仪器。

A. 水平线性误差小 B. 垂直线性好、衰减器精度高

C.盲区小、分辨率好 D. 灵敏度余量高、信噪比高、功率大 4.8 探头的晶片尺寸增加对探头的( )有不利影响。 A. 声束的指向性 B. 近场区长度 C. 远距离缺陷检出能力 D. 以上都是

4.9 检测时采用较高的检测频率,可有利于( )。

A. 发现较小的缺陷 B. 区分开相邻的缺陷

C. 改善声束指向性 D. 以上都对

4.10 采用频率( )的直探头在不锈钢大锻件超探时,可获得较好的穿透能力。 A.1.25MHZ B.2.5MHZ C.5MHZ D.10MHZ 4.11被检工件晶粒粗大,通常会引起( )。

A.草状回波增多 B.信噪比下降

C.底波次数减少 D.以上的全部或部分现象发生 4.12 超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是( )。

A. 曲面检测时可减少耦合损失 B. 可减少材质衰减损失

C. 辐射声能大 D. 声束能量 4.13 耦合剂的最重要作用是( )。 A. 便于探头移动 B. 防止探头磨损工件表面

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超声检测习题部分

C. 使超声波能传入工件 D. 减少摩擦 4.14 不是影响声耦合的主要因素有( )。

A. 耦合层的厚度 B. 耦合剂的声阻抗 C. 工件表面粗糙度和工件表面形状 D. 耦合剂的涂刷 4.15 超声耦合层的厚度为( ),透声效果好,反射回波高。

11波长的整数倍 B. 波长的奇数倍 241C. 波长的奇数倍 D. 1倍波长的奇数倍

8A.

4.16 如果声波在耦合介质中的波长为λ,为使透声效果好,耦合层厚度为( )。

A.λ/4的奇数倍 B.λ/2整数倍

C.小于λ/4且很薄 D.以上B和C

4.17 检测粗糙表面的工件时,为提高声能传递,应选用( )。

A.声阻抗小且粘度大的耦合剂 B.声阻抗小且粘度小的耦合剂

C.声阻抗大且粘度大的耦合剂 D.声阻抗适中黏度适中的耦合剂

4.18 工件表面形状不同时,对耦合效果将产生不同影响,下面的说法中( )是正确的。

A. 平面最好,凸曲面居中,凹曲面效果最差 B. 凹曲面最好,平面居中,凸曲面效果最差

C. 凸曲面最好,凹曲面居中,平面效某最差 D. 粗糙表面比平滑表面更容易实现耦合

4.19 为减少凹面检测时的耦合损耗,通常采用以下方法:( )

A.使用高声阻抗耦合剂 B.使用软保护膜探头 C.减少探头耦合面尺寸 D.使用高频率探头 4.20 由于工件表面粗糙,而造成声波传播的损耗,其表面补偿应为( )。

A. 2dB B. 4dB C. 用实验方法测定的补偿dB值 D. 任意规定补偿的dB值 4.21 考虑检测灵敏度补偿的理由是( )。

A. 被检工件厚度太大 B. 工件底面与检测面不平行

C. 耦合剂有较大声能损耗 D. 工件与试块材质、表面光洁度有差异 4.22 对接焊接接头超声检测时应正确校准仪器扫描比例,其目的是( )。

A. 对缺陷准确定位 B. 判断缺陷波幅

C. 判断结构的反射波和缺陷波 D. 以上A和 C

4.23 模拟式超声波探伤仪按水平法校准后,显示屏上的水平刻度值直接显示反射体的( )。 A. 声程距离 B. 水平距离 C. 深度距离 D. 以上都不对

4.24 有一个厚度为300 mm的锻件需做直探头纵波扫查,现欲利用CSK-Ⅰ试块厚100 mm的 底面将仪器的扫描速度调节为1:4,使底波B2、B4分别对准荧光屏的水平刻度( )就 可以实现。

A.25 、100 B.50 、100

C.25 、50 D. 25 、75

4.25模拟式超声波探伤仪用K1.5的横波斜探头用CSK-Ⅰ试块按深度1:1进行扫描速度校 准,R50、R100圆弧面的回波应分别对准水平刻度( )

A. 44.7、89.4 B. 41.6、83.2 C. 22.3、44.7 D. 27.7、55.5

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4.26 在较薄对接焊接接头超声检测中,一般宜使用( )方法校准横波扫描速度。

A.水平调节法 B. 深度调节法

C. 声程调节法 D. 以上都是

4.27 在厚焊缝斜探头检测时,一般宜使用( )校准仪器时基线

A.水平法 B.深度法

C.声程法 D.二次波法

4.28 用2.5P20Z的直探头检测厚度90 mm的饼型锻件,校准灵敏度的方法错误的是( )。

A. 试块调整法 B. 底波调整法

C. 距离-波幅-当量曲线法 D. AVG曲线法

4.29 为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号,确定缺陷的位置、方向和形状,可采用

( )等探头基本扫查方式

A. 前后、左右 B. 转角

C. 环绕 D. 以上都是

4.30 利用A型脉冲反射式超声波探伤仪对缺陷定位时,影响缺陷定位的主要因素有( )。 A.仪器和探头 B.操作人员的影响

C.工件的影响 D.耦合剂的影响

4.31 横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是( )。

A.探头磨损会使入射点发生变化

B. 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小 C. 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化 D. 探头磨损可能导致扫描速度的变化

4.32 超声检测中需经常校验探头 K 值的原因是( )。 A. K 值是不稳定的数据 B. K 值随电压的变化而变化 C. K 值常因磨损而发生变化

D.以上都对

4.33 缺陷反射声压的大小取决于( )。

A.缺陷反射面大小 B.缺陷性质

C.缺陷取向 D.以上全部

4.34 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果( )。

A.小于实际尺寸 B.接近声束宽度

C.稍大于实际尺寸 D.等于晶片尺寸

4.35对接焊接接头斜探头检测时,与主声束垂直的缺陷,缺陷表面状态对回波高度的影响是( )。

A. 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降 B. 无影响 C. 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大 D. 以上都对 4.36 超声检测时,缺陷的特征是指缺陷的( )。

A. 形状 B. 大小 C. 密集程度 D. 以上都对 4.37 下面有关61°反射波说法,( )是错误的

A. 产生61°反射时,纵波入射角与横波反射角之和为90° B. 产生61°反射时,纵波入射角为61°,横波反射角为29° C. 产生61°反射时,横波入射角为29°, 纵波反射角为61° D. 产生61°反射时,其声程是恒定

4.38 直径为d的钢棒径向检测时,迟到波出现的位置是( )。

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A.1.3d和1.76d B.1.67d和1.76d C.1.3d和1.67d D.以上都不是

4.39 单斜探头检测时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是( )。

A.来自工件表面的杂波 B.来自探头的噪声

C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合剂噪声

4.40 纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响( )。

A. 影响缺陷的定量 B. 影响缺陷的定位 C. 影响缺陷的定量 、定位 D. 检测结果评级的影响 4.41 在直接接触法直探头检测时,底波消失的原因是( )。

A.耦合不良 B.存在与声束不垂直的平面缺陷 C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D.以上都可能造成底波消失

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