单晶硅制绒 联系客服

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功能 温度 时间 去磷硅玻璃 常温 2.5min 漂洗 常温 5min 喷淋 常温 7min 慢拉 常温 2min 烘干 170±5℃ 16min 10 化学液更换频率 (同附表三) 槽号 换液频率 更换时间 11 运行

11.1根据《二次清洗设备操作规程》,在手动工作状态下,按照“9 二次清洗工艺参数的设置”,设定

各槽时间,及相关的温度;

11.2根据《二次清洗设备操作规程》,打到自动工作状态,运行清洗设备,对硅片进行清洗。 12 检验

每篮抽取5片硅片,在日光灯下目测,硅片表面是否干燥,无水迹和其它污点。 13 工艺安全及注意事项

13.1工艺安全:氢氟酸和氟化铵溶液都具有强腐蚀性,在配液过程中,操作人员接触化学药

品时应按

照规定穿戴好防护服、防护面具、防护眼镜及长袖耐酸碱胶皮手套。

13.2硅片在检测过程中,操作人员不能用手直接接触硅片和片盒,必须正确穿戴口罩、一次

性手套、

洁净工作服、工作帽、乳胶手套,防止钠离子、油类玷污硅片。 13.3硅片易碎,在操作过程中,操作人员要轻拿轻放,以减少碎片。 13.4真空吸笔要经常用酒精清洗,在操作过程中保持清洁 14.引用文件

二次清洗设备操作规程:SF/QD-设备-05

刻蚀、二次清洗检验工艺规程:SF/QD-工艺-14

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1号槽 12小时全部换液重配 交接班 扩散面向下

插片 片盒小面朝上 片盒大面朝下

已刻蚀硅片的流入 经等离子刻蚀过的硅片流入到插 片工作台,硅片方向须按此放置 非扩散面向上 图一

非扩散面向上, 扩散面向下 图二

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上料 将已插好硅片的片盒整齐、有序的装入包塑的不锈钢花篮中每篮12个片盒,片盒之间有相应的间隔

图3

化学腐蚀液的配制比例(附表一)

槽号 功能 清洗液组成 标准浓度(克/升) 加入试剂(升) 加入试剂(瓶) 液面高度(厘米) 1号槽 去磷硅玻璃 2号槽 漂洗 3号槽 喷淋 4号槽 慢拉 去离子水 / / / 30 5、6号槽 烘干 清洁风 / / / / 49%氢氟酸 40%氟化氨 去离子水 去离子水 40±5 12 3 32 18±5 160 40 32 / / / 32 / / / 32 二次清洗工艺参数设定(附表二)

槽号 功能 温度 时间 1号槽 去磷硅玻璃 常温 2.5min 2号槽 漂洗 常温 5min 3号槽 喷淋 常温 7min 4号槽 慢拉 常温 2min 5、6号槽 烘干 170±5℃ 16min

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PECVD工艺说明

1. 目 的

确保二次清洗后的PECVD工艺处于良好的受控状态 2 使用范围

适用于本公司单晶硅电池片的PECVD工序 3. 责任

本工艺说明由技术部负责 4. 内 容 4.1工艺准备

4.1.1 检查设备和PC上是否有故障显示(红色灯或/和红色点); 4.1.2 进入“process chamber”?“recipe”,对照下面图片检查各工艺参数是否正确:

4.1.3 如检查无问题,点击右侧中部的“pump”按钮,进入真空泵控制面板,在“process pump”下的按钮框里点“evacuate”按钮,启动工艺腔真空泵。几秒之后LC(上料腔)和ULC(下料腔)的“evacuate”按钮激活,点击这两个按钮,打开相应的真空泵,开始抽LC和ULC。 4.1.4 进入process?parameters,把heater2和heater3的standby-temperature修改为400℃并保存;

4.1.5 当真空腔压强降至一定时,heater2和heater3启动,当它们的温度均稳定在400±3℃

后,方可加载菜单、启动工艺。

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